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Normas BSI – AENOR
BS ISO 23833:2006

BS ISO 23833:2006

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA). Vocabulary

Fecha Anulación:
2013-04-30 /Withdrawn
Comité:
CII/9
Equivalencias internacionales:

ISO 23833:2006

Relación con otras normas BSI:

Reemplazada por: BS ISO 23833:2013

Keywords:
Terminology, X-ray analysis, Electron microscopes, Chemical analysis and testing, X-ray fluorescence spectrometry, Vocabulary, Instrumental methods of analysis, Spectroscopy, Microanalysis, Electron beams
302,1
Idioma Formato

Formato digital

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