Saltar navegación principal
Normas BSI – AENOR
BS ISO 15632:2002

BS ISO 15632:2002

Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

Fecha Anulación:
2012-08-31 /Withdrawn
Comité:
CII/9
Equivalencias internacionales:

ISO 15632:2002

Relación con otras normas BSI:

Reemplazada por: BS ISO 15632:2012

Keywords:
Semiconductor diodes, Spectroscopy, Semiconductors, Detectors, Chemical analysis and testing, X-ray fluorescence spectrometry, Electron beams
155,32
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta