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Normas BSI – AENOR
DD CLC/TS 50217:2005

DD CLC/TS 50217:2005

Guide for in situ measurements. In situ measurement of disturbance emission

Fecha Anulación:
2013-06-30 /Withdrawn
Comité:
GEL/210/11
Equivalencias internacionales:

CLC/TS 50217:2005

Relación con otras normas BSI:

Reemplazada por: BS EN 55016-2-3:2010+A2:2014

Keywords:
Electromagnetic radiation, Measurement, Fixed, Electromagnetic compatibility, Interference (wave physics)
251,42
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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