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Normas BSI – AENOR
PD 6595:1996, CENELEC Report R117-006:1995

PD 6595:1996, CENELEC Report R117-006:1995

Parameter extraction techniques for the European mini test chip

Fecha Anulación:
2004-05-01 /Withdrawn
Comité:
EPL/501
Equivalencias internacionales:

CENELEC Report R117-006:1995

Keywords:
Electronic equipment and components, Integrated circuits, Metal oxide semiconductors, Transistors, Test equipment, Digital integrated circuits, Microprocessor chips
214,51
Idioma Formato

Formato digital

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